Topic outline

  • Сканирующая зондовая микроскопия

    Сканирующая зондовая микроскопия - один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. Сканирующий туннельный микроскоп – первый из семейства зондовых микроскопов. Был изобретен в 1981 году швейцарскими учеными Гердом Биннигом и Генрихом Рорером. В 1986 году за создание туннельного микроскопа Г. Биннигу и Г. Рореру была присуждена Нобелевская премия по физике.

    ИНТЕГРА ПримаНаноЛаборатория ИНТЕГРА Терма создана для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой и туннельной микроскопии. Позволяет изучать физические и химические свойства поверхности образцов с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет выполнять сканирование образцов с высокой скоростью.


    ИНТЕГРА Прима