Zakharchenko Irina Nikolaevna

Curriculum Vitae

• 1969 - окончила физический факультет РГУ по специальности физика, квалификация – физик-рентгенофизик.
• Член международного союза кристаллографов.
• Ведущий научный сотрудник НИИ Физики РГУ.

Field of Science

Рентгенография сегнетоэлектриков, релаксоров (сегнетоэлектриков с размытым фазовым переходом), тонкопленочных сегнетоэлектриков, выращенных эпитаксиально и поликристаллических; термодинамика сегнетоэлектрических фазовых переходов.

В лаборатории рентгеноструктурного анализа НИИ физики ЮФУ выполняются  исследовательские работы на современных рентгеновских дифрактометрах, в числе которых ДРОН 7, Ultima IV (Rigaku), что позволяет, используя высокоразрешающие схемы регистрации, получить детальную информацию о фазовом составе, особенностях структуры, степени ее совершенства в кристаллических материалах, включая наноразмерные объекты – тонкие пленки, сверхрешетки, наночастицы.

Современные методы рентгеновской дифрактометрии позволяют контролировать степень совершенства кристаллической структуры твердотельных материалов, изучать структурные фазовые переходы в них, меняя температуру, подвергая действию электрических полей и одновременно регистрируя дифракционное рассеяние. В комплексе с методами электронной микроскопии и электрофизическими данными формируются представления о физических механизмах, лежащих в основе различных процессов, вызванных внешними воздействиями, что позволяет установить связь структура—свойства материала. Решение таких задач позволяет с одной стороны развивать фундаментальные направления физики конденсированного состояния, с другой стороны является базой для практического использования известных и вновь синтезированных материалов в современных функциональных устройствах.

Опубликовано в соавторстве более 170 печатных научных работ в отечественных и зарубежных научных журналах и материалах научных конференций и 75 тезисов докладов представленных на международных конференциях. За последние 5 лет – 60.

1. Сравнительное исследование пленки BaTiO3 и сверхрешетки BaTiO3/(Ba0.7Sr0.3)TiO3 методами дифракции рентгеновких лучей и спектроскопии комбинационного рассеяния света.Физика твердого тела 2012, Т.54, №8, с. 1526-1532. О.А. Маслова,И.Н. Захарченко,О.А. Бунина, Ю.И. Юзюк, N. Ortega, A. Kumar, R.S. Katiyar.
2. Structural Properties of Composite Thin Films BiFeO3 – Ba0.8Sr0.2TiO3.Ferroelectrics, 2012, v.439, P. 67-63. O.A. Bunina, I.N. Zakharchenko, Yu.I. Golovko, V.M. Mukhortov, D.V. Stryukov, Yu.I. Yuzyuk.
3. X-ray Diffraction Study of BaTiO3/(Ba1-xSrx)TiO3 Artificial Superlattices. Ferroelectrics, vol 444. I. N. Zakharchenko, O. A. Bunina, O.A. Maslova,  Y.U.Yuzyuk,  N. Ortega, A. Kkumar, R S. Katiyar/
4. Структура и динамика решетки гетероструктур на основе феррита висмута и титаната бария-стронция на подложке оксида магния. ФТТ. 2010, т.52, вып.7, с. 1336 – 1341.Ю.И. Головко, В.М. Мухортов, О.А. Бунина, И.Н. Захарченко, А.С. Анохин, В.Б. Широков, Ю.И. Юзюк.
5. Использование различных катализаторов роста для лазерного напыления микро- и наностержней ZnO. ЖТФ 2012, Т. 82, №4,С. 114-122.Н.В. Лянгузов, В.Е. Кайдашев, И.Н. Захарченко, Ю.А. Куприна, О.А. Бунина, Ю.И. Юзюк, А.П. Киселев, Е.М. Кайдашев